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45 Results:UU:제40권제1호20031 PP:대한전자공학회 0.316 sec.
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이중 포트 메모리를 위한 효과적인 테스트 알고리듬
이중 포트 메모리를 위한 효과적인 테스트 알고리듬
김지혜, 송동섭, 배상민, | 대한전자공학회 | 2003 ,
2
SoC IP 간의 효과적인 연결 테스트를 위한 알고리듬 개발
SoC IP 간의 효과적인 연결 테스트를 위한 알고리듬 개발
김용준, 강성호, | 대한전자공학회 | 2003 ,
3
계층적 SoC 테스트 접근을 위한 플래그 기반 코아 연결 모듈의 설계
계층적 SoC 테스트 접근을 위한 플래그 기반 코아 연결 모듈의 설계
송재훈, 박성주, 전창호, | 대한전자공학회 | 2003 ,
4
JPEG2000 CODEC을 위한 DWT 및 양자화기 VLSI 설계
JPEG2000 CODEC을 위한 DWT 및 양자화기 VLSI 설계
이경민, 김영민, | 대한전자공학회 | 2003 ,
5
변형된 레지스터 교환 방식의 비터비 디코더 설계
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이찬호, 노승효, | 대한전자공학회 | 2003 ,
6
간섭의 원리를 이용한 이진 위상의 광학적 암호화 시스템
간섭의 원리를 이용한 이진 위상의 광학적 암호화 시스템
서동환, 신창목, 김수동, | 대한전자공학회 | 2003 ,
7
비정질 및 다결정 실리콘 TFT-LCD에서의 플리커(flicker) 현상 비교 분석 연구
비정질 및 다결정 실리콘 TFT-LCD에서의 플리커(flicker) 현상 비교 분석 연구
손명식, 송민수, 유건호, | 대한전자공학회 | 2003 ,
8
마이크로 센서 어레이 제작 및 폭발성 가스 인식으로의 응용
마이크로 센서 어레이 제작 및 폭발성 가스 인식으로의 응용
이대식, 이덕동, | 대한전자공학회 | 2003 ,
9
NDRD 방식의 강유전체-게이트 MFSFET 소자의 특성
NDRD 방식의 강유전체-게이트 MFSFET 소자의 특성
이국표, 강성준, 윤영섭, | 대한전자공학회 | 2003 ,
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지역 및 광역 리커런트 신경망을 이용한 비선형 적응예측
지역 및 광역 리커런트 신경망을 이용한 비선형 적응예측
최한고, | 대한전자공학회 | 2003 ,
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