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이중 포트 메모리를 위한 효과적인 테스트 알고리듬
이중 포트 메모리를 위한 효과적인 테스트 알고리듬
Detailed Information
- 자료유형
- 기사
- ISSN
- 12296368
- 서명/저자
- 이중 포트 메모리를 위한 효과적인 테스트 알고리듬 / 김지혜, 송동섭, 배상민 공저
- 발행사항
- 서울 : 대한전자공학회, 2003.
- 형태사항
- pp. 72-79
- 기타저자
- 김지혜, 송동섭, 배상민
- 모체레코드
- 모체정보확인
- Control Number
- kjul:60044385
MARC
008050715s2003 ULKa a KOR■022 ▼a12296368
■245 ▼a이중 포트 메모리를 위한 효과적인 테스트 알고리듬▼d김지혜, 송동섭, 배상민 공저
■260 ▼a서울▼b대한전자공학회▼c2003.
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■653 ▼a메모리▼a위한▼a효과적▼a테스트▼a알고리
■700 ▼a김지혜, 송동섭, 배상민
■773 ▼t전자공학회논문지SD(Semiconductor and Devices) : 반도체▼g제40권 제1호 (2003 1)▼d2003, 01
■SIS ▼aS009648▼b60014354▼h8▼s2
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