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4 Results:SS:HOTCARRIER 0.31 sec.
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Hot Carrier 현상에 의한 Bulk DTMOS의 RF성능 저하
Hot Carrier 현상에 의한 Bulk DTMOS의 RF성능 저하
박장우, 이병진, 유종근, 박종태, | 대한전자공학회 | 2005 ,
2
STI구조를 갖는 nMOSFET의 채널 너비에 따른 Hot-Carrier 열화 현상에 관한 연구
STI구조를 갖는 nMOSFET의 채널 너비에 따른 Hot-Carrier 열화 현상에 관한 연구
이성원, 신형순, | 대한전자공학회 | 2003 ,
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표면 채널 p-MOSFET의 Hot-Carrier에 의한 노쇠화
표면 채널 p-MOSFET의 Hot-Carrier에 의한 노쇠화
양광선, 569.2-양15표-TD | 연세대학교 대학원 | 1992 569.2-양15표-TD,
4
Microwave noise in semiconductordevices
Microwave noise in semiconductordevices
Hartnagel, Hans, 569.6-H333m | Wiley | 2001 569.6-H333m,
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