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Hot Carrier 현상에 의한 Bulk DTMOS의 RF성능 저하
Hot Carrier 현상에 의한 Bulk DTMOS의 RF성능 저하
상세정보
- 자료유형
- 기사
- ISSN
- 12296368
- 서명/저자
- Hot Carrier 현상에 의한 Bulk DTMOS의 RF성능 저하 / 박장우, 이병진, 유종근, 박종태 공저
- 발행사항
- 서울 : 대한전자공학회, 2005.
- 형태사항
- pp. 9
- 기타저자
- 박장우, 이병진, 유종근, 박종태
- 모체레코드
- 모체정보확인
- Control Number
- kjul:60047329
MARC
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