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2 Results:SS:테스트 PP:대한전자공학회 AA:손윤식, 정정화 0.109 sec.
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2-패턴 테스트를 고려한 스캔 기반 BIST 구조
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손윤식, 정정화, | 대한전자공학회 | 2003 ,
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저 전력소모와 높은 테스트용이성을 위한 새로운 논리 변환 방법
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손윤식, 정정화, | 대한전자공학회 | 2003 ,
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