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2-패턴 테스트를 고려한 스캔 기반 BIST 구조
2-패턴 테스트를 고려한 스캔 기반 BIST 구조 / 손윤식, 정정화 공저
2-패턴 테스트를 고려한 스캔 기반 BIST 구조

Detailed Information

자료유형  
 기사
ISSN  
12296368
서명/저자  
2-패턴 테스트를 고려한 스캔 기반 BIST 구조 / 손윤식, 정정화 공저
발행사항  
서울 : 대한전자공학회, 2003.
형태사항  
pp. 45-51
키워드  
2패턴 테스트 고려 스캔 기반 BIST 구조
기타저자  
손윤식, 정정화
기본자료저록  
전자공학회논문지SD(Semiconductor and Devices) : 반도체 : 제40권 제10호 (2003 10) 2003, 10
모체레코드  
모체정보확인
Control Number  
kjul:60044544

MARC

 008050718s2003        ULKa    a                          KOR
■022    ▼a12296368
■245    ▼a2-패턴  테스트를  고려한  스캔  기반  BIST  구조▼d손윤식,  정정화  공저
■260    ▼a서울▼b대한전자공학회▼c2003.
■300    ▼app.  45-51
■653    ▼a2패턴▼a테스트▼a고려▼a스캔▼a기반▼aBIST▼a구조
■700    ▼a손윤식,  정정화
■773    ▼t전자공학회논문지SD(Semiconductor  and  Devices)  :  반도체▼g제40권  제10호  (2003  10)▼d2003,  10
■SIS    ▼aS010467▼b60014354▼h8▼s2

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