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Test generation for VLSI chips : Tutorial

Test generation for VLSI chips : Tutorial

Agrawal, Vishwani D., 569.3-V822t | IEEE Computer Soci | 1988 569.3-V822t,

状态信息

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등록번호	별치/청구기호	소장처	대출여부	대출정보
W026917	569.3 V822t	서양서제2서고	대출가능
W026918	569.3 V822t c.2	서양서제2서고	대출가능

1

排序

提炼

材料类型

단행본 (1)

笔者

Agrawal, Vishwani D. (1+)

出版商

IEEE Computer Soci (1+)

出版年

1988 (1)

语言

eng (1)