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Oxidation and Reduction Characteristics of Oxygen Carrier Particles and Reaction Kinetics by Unreacted Core Model
Oxidation and Reduction Characteristics of Oxygen Carrier Particles and Reaction Kinetics by Unreacted Core Model
Ho-Jung Ryu, Dal-Hee Bae, Keun-Hee Han, Seung-Yon, | 한국화학공학회 | 2001 ,
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Hot Carrier 현상에 의한 Bulk DTMOS의 RF성능 저하
Hot Carrier 현상에 의한 Bulk DTMOS의 RF성능 저하
박장우, 이병진, 유종근, 박종태, | 대한전자공학회 | 2005 ,
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PMOSFET에서 Hot Carrier Lifetime은 Hole injection에 의해 지배적이며, Nano-Scale CMOSFET에서의 NMOSFET에 비해 강화된 PMOSFET 열화 관찰
PMOSFET에서 Hot Carrier Lifetime은 Hole injection에 의해 지배적이며, Nano-Scale CMOSFET에서의 NMOSFET에 비해 강화된 PMOSFET 열화 관찰
나준희, 최서윤, 김용구, 이희덕, | 대한전자공학회 | 2004 ,
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Eugene Carriere : The Symbol of Creation
Eugene Carriere : The Symbol of Creation
Bantens, Robert James, 650.8-B219e-R | Kent | 1990 650.8-B219e-R,
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Powerline communications
Powerline communications
Dostert, Klaus., 567-D724p | Prentice Hall PTR | 2001 567-D724p,
16
Microwave noise in semiconductordevices
Microwave noise in semiconductordevices
Hartnagel, Hans, 569.6-H333m | Wiley | 2001 569.6-H333m,
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