4
Gyu C. Kim,
| 한국산업정보학회 |
2011
,
5
Kyung Taec KIM,
| 한국물리학회 |
2006
,
6
C. Kim,
| 한국물리학회 |
2007
,
7
Y. C. Kim,
| 한국물리학회 |
2007
,
9
Y. C. Kim,
| 한국물리학회 |
2006
,
10
Evolution of Interface Voids under Current and Temperature Stress in Integrate Circuit Metallization
J.H. Choy, K.L. Kavanagh, Y.C. Kim,
| 대한금속.재료학회 |
2004
,
排序
提炼
材料类型
笔者
出版商
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语言
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