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ISSN  

12296368

Title/Author  

SoC 환경에서의 저전력 테스트를 고려한 테스트 패턴 압축에 대한 효율적인 알고리즘 / 신요승, 강성호 공저

Publish Info  

서울 : 대한전자공학회, 2004.

Material Info  

pp. 85

Index Term-Uncontrolled  

SOC 환경 저전 테스트 고려 패턴 압축 대한 효율 적인 알고리즘

Added Entry-Personal Name  

신요승, 강성호

Host Item Entry  

전자공학회논문지SD(Semiconductor and Devices) : 반도체 : 제41권 제9호 (2004 9) 2004, 09

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kjul:60047134