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도서명 :
SoC 환경에서의 저전력 테스트를 고
려한 테스트 패턴 압축에 대한 효율적인 알고리즘
저 자 :
신요승, 강성호
청구기호 :
소장처 :
참고자료실(관광학관2층)
대출요구사항 :
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