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Deep Submicron MOSFET 기판회로 파라미터의 바이어스 및 게이트 길이 종속 데이터 추출
Deep Submicron MOSFET 기판회로 파라미터의 바이어스 및 게이트 길이 종속 데이터 추출
Detailed Information
- 자료유형
- 기사
- ISSN
- 12296368
- 서명/저자
- Deep Submicron MOSFET 기판회로 파라미터의 바이어스 및 게이트 길이 종속 데이터 추출 / 이용택, 최문성, 구자남, 이성현 공저
- 발행사항
- 서울 : 대한전자공학회, 2004.
- 형태사항
- pp. 27
- 기타저자
- 이용택, 최문성, 구자남, 이성현
- 모체레코드
- 모체정보확인
- Control Number
- kjul:60047094
MARC
008050801s2004 ULKa a KOR■022 ▼a12296368
■245 ▼aDeep Submicron MOSFET 기판회로 파라미터의 바이어스 및 게이트 길이 종속 데이터 추출▼d이용택, 최문성, 구자남, 이성현 공저
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■773 ▼t전자공학회논문지SD(Semiconductor and Devices) : 반도체▼g제41권 제12호 (2004 12)▼d2004, 12
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