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도서명 :
Deep Submicron MOSFE
T 기판회로 파라미터의 바이어스 및 게이트 길이 종속 데이터 추출
저 자 :
이용택, 최문성, 구자남, 이성현
청구기호 :
소장처 :
참고자료실(관광학관2층)
대출요구사항 :
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