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  • 도서명 : Deep Submicron MOSFE
    T 기판회로 파라미터의 바이어스 및 게이트 길이 종속 데이터 추출
  • 저 자 : 이용택, 최문성, 구자남, 이성현
  • 청구기호 :
  • 소장처 :참고자료실(관광학관2층)
  • 대출요구사항 :