자료유형  

 기사

ISSN  

12296368

서명/저자  

STI구조를 갖는 nMOSFET의 채널 너비에 따른 Hot-Carrier 열화 현상에 관한 연구 / 이성원, 신형순 공저

발행사항  

서울 : 대한전자공학회, 2003.

형태사항  

pp. 8-13

키워드  

STI구조를 NMOSFET의 채널 너비 HOTCARRIER 현상

기타저자  

이성원, 신형순

기본자료저록  

전자공학회논문지SD(Semiconductor and Devices) : 반도체 : 제40권 제9호 (2003 9) 2003, 09

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Control Number  

kjul:60044508