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STI구조를 갖는 nMOSFET의 채널 너비에 따른 Hot-Carrier 열화 현상에 관한 연구
STI구조를 갖는 nMOSFET의 채널 너비에 따른 Hot-Carrier 열화 현상에 관한 연구 / 이성원, 신형...
STI구조를 갖는 nMOSFET의 채널 너비에 따른 Hot-Carrier 열화 현상에 관한 연구

Detailed Information

자료유형  
 기사
ISSN  
12296368
서명/저자  
STI구조를 갖는 nMOSFET의 채널 너비에 따른 Hot-Carrier 열화 현상에 관한 연구 / 이성원, 신형순 공저
발행사항  
서울 : 대한전자공학회, 2003.
형태사항  
pp. 8-13
키워드  
STI구조를 NMOSFET의 채널 너비 HOTCARRIER 현상
기타저자  
이성원, 신형순
기본자료저록  
전자공학회논문지SD(Semiconductor and Devices) : 반도체 : 제40권 제9호 (2003 9) 2003, 09
모체레코드  
모체정보확인
Control Number  
kjul:60044508

MARC

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