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도서명 :
STI구조를 갖는 nMOSFET의 채
널 너비에 따른 Hot-Carrier 열화 현상에 관한 연구
저 자 :
이성원, 신형순
청구기호 :
소장처 :
참고자료실(관광학관2층)
대출요구사항 :
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