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고집적 메모리에서 Word-Line과 Bit-Line에 민감한 고장을 위한 테스트 알고리즘
고집적 메모리에서 Word-Line과 Bit-Line에 민감한 고장을 위한 테스트 알고리즘
Detailed Information
- 자료유형
- 기사
- ISSN
- 12296368
- 서명/저자
- 고집적 메모리에서 Word-Line과 Bit-Line에 민감한 고장을 위한 테스트 알고리즘 / 강동철, 양명국, 조상복 공저
- 발행사항
- 서울 : 대한전자공학회, 2003.
- 형태사항
- pp. 74-84
- 기타저자
- 강동철, 양명국, 조상복
- 모체레코드
- 모체정보확인
- Control Number
- kjul:60044424
MARC
008050715s2003 ULKa a KOR■022 ▼a12296368
■245 ▼a고집적 메모리에서 Word-Line과 Bit-Line에 민감한 고장을 위한 테스트 알고리즘▼d강동철, 양명국, 조상복 공저
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■773 ▼t전자공학회논문지SD(Semiconductor and Devices) : 반도체▼g제40권 제4호 (2003 4)▼d2003, 04
■SIS ▼aS009651▼b60014354▼h8▼s2
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