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  • 도서명 : 고집적 메모리에서 Word-Line과
    Bit-Line에 민감한 고장을 위한 테스트 알고리즘
  • 저 자 : 강동철, 양명국, 조상복
  • 청구기호 :
  • 소장처 :참고자료실(관광학관2층)
  • 대출요구사항 :