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0.18㎛ CMOS Technolngy에서 인터커넥트 라인에 의한 지연시간의 게이트 폭에 대한 의존성 분석
0.18㎛ CMOS Technolngy에서 인터커넥트 라인에 의한 지연시간의 게이트 폭에 대한 의존성 분석
상세정보
MARC
008050713s2000 ULKa a KOR■022 ▼a12296368
■245 ▼a0.18㎛ CMOS Technolngy에서 인터커넥트 라인에 의한 지연시간의 게이트 폭에 대한 의존성 분석▼d장명준, 이희덕 공저
■260 ▼a서울▼b대한전자공학회▼c2000.
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■700 ▼a장명준, 이희덕
■773 ▼t전자공학회논문지SD(Semiconductor and Devices) : 반도체▼g제37권 제11호 (2000 11)▼d2000, 11
■SIS ▼aS009622▼b60014354▼h8▼s2


