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도서명 :
0.18㎛ CMOS Technolng
y에서 인터커넥트 라인에 의한 지연시간의 게이트 폭에 대한 의존성 분석
저 자 :
장명준, 이희덕
청구기호 :
소장처 :
참고자료실(관광학관2층)
대출요구사항 :
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