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Si 기판의 소성변형 효과 보정에 의해 개선된 곡률측정법을 이용한 CVD 다이아몬드 박막의 잔류응력 평가
Si 기판의 소성변형 효과 보정에 의해 개선된 곡률측정법을 이용한 CVD 다이아몬드 박막의 잔류...
Si 기판의 소성변형 효과 보정에 의해 개선된 곡률측정법을 이용한 CVD 다이아몬드 박막의 잔류응력 평가

상세정보

자료유형  
 기사
ISSN  
02533847
서명/저자  
Si 기판의 소성변형 효과 보정에 의해 개선된 곡률측정법을 이용한 CVD 다이아몬드 박막의 잔류응력 평가 / 정증현, 김용협, 백영준 공저
발행사항  
서울 : 대한금속.재료학회, 2000.
형태사항  
pp. 1675-1683
키워드  
기판 소성변형 효과 보정 의해 개선 곡률 이용 CVD 다이아몬드 박막 잔류 응력 평가
기타저자  
정증현, 김용협, 백영준
기본자료저록  
대한금속.재료학회지 : Vol.38 No.12 2000 2000, 12
모체레코드  
모체정보확인
Control Number  
kjul:60014799

MARC

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