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Built-In Self Test방식에 衣한 CMOS回路의 Testable Design에 關한 硏究 /宋錫勳 著.
Built-In Self Test방식에 衣한 CMOS回路의 Testable Design에 關한 硏究 /宋錫勳 著.
상세정보
- 자료유형
- 학위논문
- 청구기호
- 569.8 송54b
- 저자명
- 송석훈
- 서명/저자
- Built-In Self Test방식에 衣한 CMOS回路의 Testable Design에 關한 硏究 /宋錫勳 著.
- 발행사항
- 서울 : 漢陽大學校 産業大學院, 1989.
- 형태사항
- ii,49 p. ; 26 cm.
- 학위논문주기
- 석사학위논문 - 한양대학교 산업대학원 : 전자공학, 1989
- 서지주기
- 참고문헌 : p.43-47
- 가격
- 4000
- Control Number
- kjul:40004882
MARC
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