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도서명 :
Built-In Self Test방식
에 衣한 CMOS回路의 Testable Design에 關한 硏究 /宋錫勳 著.
저 자 :
송석훈
청구기호 :
569.8-송54b-TM
소장처 :
참고자료실(관광학관2층)
대출요구사항 :
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