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1 Results:UU:제41권제8호20048 PP:대한전자공학회 AA:김태식, 민병우, 박성주 0.31 sec.
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재구성 가능한 시스템 칩 테스트 제어기술의 개발
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김태식, 민병우, 박성주, | 대한전자공학회 | 2004 ,
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