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1 Results:UU:제41권제2호20046 PP:대한전자공학회 AA:곽성관, 김동식 0.15 sec.
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Si 나노 결정을 이용한 MOS 구조에서 Interface trap 효과에 관한 연구
Si 나노 결정을 이용한 MOS 구조에서 Interface trap 효과에 관한 연구
곽성관, 김동식, | 대한전자공학회 | 2004 ,
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