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1 Results:UU:제10B권제3호2003년6월 AA:오춘석 ( CHOON SUK OH ) 0.128 sec.
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볼트 결함 판별을 위한 고속 정밀 검사 장치 개발
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오춘석 ( Choon Suk Oh ), | 한국정보처리학회 | 2003 ,
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