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전기적 스트레스에 의한 MILC poly-Si TFT 특성변화 원인에 관한 연구
전기적 스트레스에 의한 MILC poly-Si TFT 특성변화 원인에 관한 연구
김기범, 김태경, 이병일, | 대한전자공학회 | 2000 ,
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