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표면 채널 p-MOSFET의 Hot-Carrier에 의한 노쇠화

표면 채널 p-MOSFET의 Hot-Carrier에 의한 노쇠화

양광선, 569.2-양15표-TD | 연세대학교 대학원 | 1992 569.2-양15표-TD,

Status Info

Status Info
등록번호	별치/청구기호	소장처	대출여부	대출정보
T001016	TD - 569.2 양15표	참고자료실(관광학관2층)	대출불가

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Сортировка

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Формат

학위논문 (1)

Автор

양광선 (1+)

Издатель

연세대학교 대학원 (1+)

Год

1992 (1)

Язык

kor (1)