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5 Results:SS:CMOSFET 0.94 sec.
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Nano CMOSFET에서 Channel Stress가 소자에 미치는 영향 분석
Nano CMOSFET에서 Channel Stress가 소자에 미치는 영향 분석
한인식, | 대한전자공학회 | 2006 ,
2
나노급 CMOSFET을 위한 SOI기판에 도핑된 B11을 이용한 니켈-실리사이드의 열안정성 개선
나노급 CMOSFET을 위한 SOI기판에 도핑된 B11을 이용한 니켈-실리사이드의 열안정성 개선
정순연, | 한국전기전자재료학회 | 2006 ,
3
Accurate Extraction of Crosstalk Induced Dynamic Variation of Coupling Capacitance for Interconnect Lines of CMOSFETs
Accurate Extraction of Crosstalk Induced Dynamic Variation of Coupling Capacitance for Interconnect Lines of CMOSFETs
Yong Goo-Kim, Hee-Hwan Ji, Hyung Sun Yoon, Sung H, | 대한전자공학회 | 2004 ,
4
나노 스케일 C-MOS FET에 적용되는 완충된 SiGe층 위에 성장된 나노스케일 변위 실리콘층을 가지는 soi c-mosfet 제작
나노 스케일 C-MOS FET에 적용되는 완충된 SiGe층 위에 성장된 나노스케일 변위 실리콘층을 가지는 soi c-mosfet 제작
박재근, | 대한금속.재료학회 | 2004 ,
5
PMOSFET에서 Hot Carrier Lifetime은 Hole injection에 의해 지배적이며, Nano-Scale CMOSFET에서의 NMOSFET에 비해 강화된 PMOSFET 열화 관찰
PMOSFET에서 Hot Carrier Lifetime은 Hole injection에 의해 지배적이며, Nano-Scale CMOSFET에서의 NMOSFET에 비해 강화된 PMOSFET 열화 관찰
나준희, 최서윤, 김용구, 이희덕, | 대한전자공학회 | 2004 ,
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