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Built-In Self Test방식에 衣한 CMOS回路의 Testable Design에 關한 硏究 /宋錫勳 著.
Built-In Self Test방식에 衣한 CMOS回路의 Testable Design에 關한 硏究 /宋錫勳 著.
송석훈, 569.8-송54b-TM | 漢陽大學校 産業大學院 | 1989 569.8-송54b-TM,
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