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자체 스캔 체인을 이용한 Built-In Self-Test 구조에 관한 연구

자체 스캔 체인을 이용한 Built-In Self-Test 구조에 관한 연구

한진욱, 민형복, | 대한전자공학회 | 2002 ,

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등록번호	별치/청구기호	소장처	대출여부	대출정보
AR14252	P -	참고자료실(관광학관2층)	대출불가

2

Built-In Self Test방식에 衣한 CMOS回路의 Testable Design에 關한 硏究 /宋錫勳著.

Built-In Self Test방식에 衣한 CMOS回路의 Testable Design에 關한 硏究 /宋錫勳著.

송석훈, 569.8-송54b-TM | 漢陽大學校産業大學院 | 1989 569.8-송54b-TM,

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등록번호	별치/청구기호	소장처	대출여부	대출정보
T004882	TM - 569.8 송54b	참고자료실(관광학관2층)	대출불가

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kor (2)