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1 Results:SS:학습 PP:대한전자공학회 AA:김지호, 배두현, 송오영 0.62 sec.
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학습 정보를 이용한 테스트 용이도 척도의 계산
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김지호, 배두현, 송오영, | 대한전자공학회 | 2004 ,
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