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2 Results:SS:테스트 PP:대한전자공학회 AA:서일석, 강용석, 강성호 0.62 sec.
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이웃 패턴 감응 고장을 위한 효과적인 메모리 테스트 알고리듬
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서일석, 강용석, 강성호, | 대한전자공학회 | 2002 ,
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내장된 자체 테스트 기법으 이용한 새로운 다중 클락 회로 테스트 방법론
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서일석, 강용석, 강성호, | 대한전자공학회 | 2002 ,
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