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2 Results:SS:테스트 PP:대한전자공학회 AA:김영훈 0.77 sec.
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IEEE 1149.1 테스트 기능이 내장된 PCI/USB 통합 인터페이스 회로의 설계
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김영훈, | 대한전자공학회 | 2006 ,
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다중 시스템 클럭으로 동작하는 보드 및 SoC의 연결선 지연 고장 테스트
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이현빈, 김영훈, 박성주, 박창원, | 대한전자공학회 | 2006 ,
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