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1 Results:SS:테스트 PP:대한전자공학회 AA:강동철, 양명국, 조상복 0.93 sec.
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고집적 메모리에서 Word-Line과 Bit-Line에 민감한 고장을 위한 테스트 알고리즘
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강동철, 양명국, 조상복, | 대한전자공학회 | 2003 ,
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