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1 Results:SS:진단 PP:대한전자공학회 AA:김지혜, 김홍식, 김상욱, 강성호 0.31 sec.
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이중 포트 메모리를 위한 효과적인 테스트와 진단 알고리듬
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김지혜, 김홍식, 김상욱, 강성호, | 대한전자공학회 | 2004 ,
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