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11 Results:SS:검사 PP:대한전자공학회 0.93 sec.
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1.8GHz 고주파 전단부의 결함 검사를 위한 새로운 BIST 회로
1.8GHz 고주파 전단부의 결함 검사를 위한 새로운 BIST 회로
류지열, 노석호, | 대한전자공학회 | 2005 ,
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플라즈마 디스플레이 패널에서 비접촉식 칼라 검사를 위한 칼라 보정 방법
플라즈마 디스플레이 패널에서 비접촉식 칼라 검사를 위한 칼라 보정 방법
도현철, 김우섭, 진성일, 태흥식, | 대한전자공학회 | 2004 ,
3
LCD 표면 검사를 위한 라인스캔 영상의 재구성
LCD 표면 검사를 위한 라인스캔 영상의 재구성
고민석, 김우섭, 송영철, 최두현, 박길흠, | 대한전자공학회 | 2004 ,
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1대의 카메라를 이용한 3차원 비전 검사 방법
1대의 카메라를 이용한 3차원 비전 검사 방법
정철진, 허경무, | 대한전자공학회 | 2004 ,
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검사 용이화를 위한 VHDL의 동작기술 합성에 관한 연구
검사 용이화를 위한 VHDL의 동작기술 합성에 관한 연구
박종태, 최현호, 허형팔, | 대한전자공학회 | 2002 ,
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잡음에 강건한 주목 연산자를 이용한 효과적인 BLU 얼룩 검사
잡음에 강건한 주목 연산자를 이용한 효과적인 BLU 얼룩 검사
박창준, 최흥문, | 대한전자공학회 | 2001 ,
7
Metal Mask 검사시스템
Metal Mask 검사시스템
최경진, 이영현, 박중국, | 대한전자공학회 | 2003 ,
8
솔더 페이스트의 고속, 고정밀 검사를 위한 이차원/삼차원 복합 광학계 및 알고리즘 구현
솔더 페이스트의 고속, 고정밀 검사를 위한 이차원/삼차원 복합 광학계 및 알고리즘 구현
조상현, 최흥문, | 대한전자공학회 | 2004 ,
9
정 전류원을 이용한 치수 검사기의 개발
정 전류원을 이용한 치수 검사기의 개발
김재성, 남기창, 김수찬, 이승종, | 대한전자공학회 | 2004 ,
10
최소극 문턱치 알고리즘을 이용한 고감쇠 용접부에서 초음파 검사방법에 관한 연구
최소극 문턱치 알고리즘을 이용한 고감쇠 용접부에서 초음파 검사방법에 관한 연구
구길모, 박치승, 최종호, 고덕영, | 대한전자공학회 | 2000 ,
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