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Secondary Ion mass spectrometry : Basic concepts, instrumental aspects, applications and trends

Secondary Ion mass spectrometry : Basic concepts, instrumental aspects, applications and trends

Benninghoven, A., 431.72-B472s | John Wiley & Sons | 1987 431.72-B472s,

소장정보

소장정보
등록번호	별치/청구기호	소장처	대출여부	대출정보
W028536	431.72 B472s	서양서제2서고	대출가능
W047240	431.72 B472s c.2	서양서제2서고	대출가능
W047241	431.72 B472s c.3	서양서제2서고	대출가능

1

소트

구분

자료유형

단행본 (1)

저자

Benninghoven, A. (1+)

출판사

John Wiley & Sons (1+)

출판년도

1987 (1)

언어

eng (1)