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산업기술시험원 40년사 : Ktl 1966-2006
산업기술시험원 40년사 : Ktl 1966-2006
산업기술시험원., 530.07209-산63사-R | 산업기술시험원 | 2006 530.07209-산63사-R,
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The Growth Characteristics of a GaN Layer on a Cone-Shaped Patterned Sapphire Substrate by TEM Observation
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Hui-Youn Shin, | 한국물리학회 | 2007 ,
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