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Pull-out test에 의해 형성된 리드프레임/EMC 계면의 파손경로에 대한 형성과정 해석
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이호영, 박영배, 전인수, 김용협, | 대한금속.재료학회 | 2005 ,
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전자소자의 배선 신뢰성에 미치는 응력의 영향
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박영배, 전인수, | 대한금속.재료학회 | 2004 ,
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다층배선 비아 구조에 대한 응력과 Electromigration 해석
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박영배, 전인수, | 대한금속.재료학회 | 2004 ,
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