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다중 시계열 패턴인식을 이용한 반도체 생산장치의 지능형 감시시스템
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이중재 ( Joong Jae Lee ), | 한국정보처리학회 | 2004 ,
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모호성을 포함하고 있는 시계열 패턴인식을 위한 새로운 모델 REAM과 그 응용
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김원, | 한국정보처리학회 | 2004 ,
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퍼지 분류기법을 이용한 강건한 카메라 동작 추정
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이중재, | 한국정보처리학회 | 2006 ,
4
부분적 폐색에 강건한 활동적 퓨전 모델
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이중재, | 한국정보처리학회 | 2006 ,
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