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오프셋과 고주파수를 이용한 연산증폭기의 새로운 테스트 방식
오프셋과 고주파수를 이용한 연산증폭기의 새로운 테스트 방식
송근호, 백한석, 문성룡, | 대한전자공학회 | 2000 ,
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