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오프셋과 고주파수를 이용한 연산증폭기의 새로운 테스트 방식

오프셋과 고주파수를 이용한 연산증폭기의 새로운 테스트 방식

송근호, 백한석, 문성룡, | 대한전자공학회 | 2000 ,

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등록번호	별치/청구기호	소장처	대출여부	대출정보
AR18795	P -	참고자료실(관광학관2층)	대출불가

1

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Format

기사 (1)

Author

송근호, 백한석, 문성룡 (1+)

Publisher

대한전자공학회 (1+)

Year

2000 (1)

Language

kor (1)