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7 Results:AA:배미숙 0.111 sec.
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부분 중복 데이터베이스에서 중복 데이터의 트리를 이용한 일관성 유지
부분 중복 데이터베이스에서 중복 데이터의 트리를 이용한 일관성 유지
배미숙 ( Bae Mi Sug ), | 한국정보처리학회 | 2003 ,
2
Nano-CMOS에서 Nisi Dopant 의존성 및 열 안정성 개선
Nano-CMOS에서 Nisi Dopant 의존성 및 열 안정성 개선
배미숙, | 대한전자공학회 | 2003 ,
3
Namo CMOS 소자를 위한 Ni-silicide의 Dopant 의존성 분석
Namo CMOS 소자를 위한 Ni-silicide의 Dopant 의존성 분석
배미숙, 지희환, | 대한전자공학회 | 2003 ,
4
반도체 ; CMOS 소자를 위한 NiSi의 Surface Damage 의존성
반도체 ; CMOS 소자를 위한 NiSi의 Surface Damage 의존성
지희환 ( Hee Hwan Ji ), | 한국전기전자재료학회 | 2003 ,
5
Ni/Co/Ni를 적용한 Ni germano-silicide의 열 안정성 개선
Ni/Co/Ni를 적용한 Ni germano-silicide의 열 안정성 개선
황빈봉, | 대한전자공학회 | 2003 ,
6
N-type 기판에서 PAI에 의한 Nickel-Silicide의 열안정성 개선
N-type 기판에서 PAI에 의한 Nickel-Silicide의 열안정성 개선
윤장근, | 대한전자공학회 | 2003 ,
7
Co-interlayer와 TiN capping을 적용한 니켈실리사이드의 0.1um CMOS 소자 특성연구
Co-interlayer와 TiN capping을 적용한 니켈실리사이드의 0.1um CMOS 소자 특성연구
오순영, | 대한전자공학회 | 2003 ,
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