신경주학교 도서관

3 Results:SS:BIST 0.46 sec.

1.8GHz 고주파 전단부의 결함 검사를 위한 새로운 BIST 회로
류지열, 노석호, | 대한전자공학회 | 2005 ,

SRAM이중-포트를 위한 내장된 메모리 BIST IP자동생성 시스템 개발
심은성, 이정민, 이찬영, 장훈, | 대한전자공학회 | 2005 ,

고장 모델 기반 메모리 BIST 회로 생성 시스템 설계
이정민, 심은성, 장훈, | 대한전자공학회 | 2005 ,

Journal of cannabis therapeutics
Haworth Press [, ]