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1.8GHz 고주파 전단부의 결함 검사를 위한 새로운 BIST 회로

1.8GHz 고주파 전단부의 결함 검사를 위한 새로운 BIST 회로

류지열, 노석호, | 대한전자공학회 | 2005 ,

소장정보

소장정보
등록번호	별치/청구기호	소장처	대출여부	대출정보
AR16981	P -	참고자료실(관광학관2층)	대출불가

1

소트

구분

자료유형

기사 (1)

저자

류지열, 노석호 (1+)

출판사

대한전자공학회 (1+)

출판년도

2005 (1)

언어

kor (1)