1 Results:UU:VOLUME2NUMBER42002DECEMBER AA:BYOUNG-GON YU 0.203 sec.
한글
English
日本語
中文
Русский
עברית
ไทย
Française
Deutsch
Español
1
Device Characterization and Fabrication issues for Ferroelectric Gate Field Effect Transistor Device
Byoung-Gon Yu,
| 대한전자공학회 |
2002
,
Сортировка
Очистить
Формат
Издатель
Год
Язык