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Device characterization and Fabrication Issues for Ferroelectric Gate Field Effect Transistor Device
Device characterization and Fabrication Issues for Ferroelectric Gate Field Effect Transistor Device
Yu , Byoung-Gon, | 대한전자공학회 | 2002 ,
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분위기 소결공정에 의한 Bi3.75La0.25Ti3O12 세라믹의 강유전 특성
분위기 소결공정에 의한 Bi3.75La0.25Ti3O12 세라믹의 강유전 특성
김응권(Eung Kwon Kim), | 한국전기전자재료학회 | 2002 ,
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