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지연고장 점검을 위한 효율적인 IEEE 1149.1 바운다리스캔 설계
지연고장 점검을 위한 효율적인 IEEE 1149.1 바운다리스캔 설계
김태형, 박성주, | 대한전자공학회 | 2001 ,
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Crisis (00111422)
Crisis Publications Inc. [, ]