21
Evolution of Interface Voids under Current and Temperature Stress in Integrate Circuit Metallization
J.H. Choy, K.L. Kavanagh, Y.C. Kim,
| 대한금속.재료학회 |
2004
,
27
Grant, Thomas D., 361-G767r
| Praeger |
1999
361-G767r,
28
Tai-Shan Hu,chien-Yuan Lin,
| 대한국토도시계획학회 |
2003
,
29
Walker, Warren F, 496-W177f-안진홍
| Saunders College Pub. |
1994
496-W177f-안진홍,
30
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
11
12
13
14
15
16
17
18
Сортировка
Очистить
Формат
Автор
- A. M. H. Gillespie (3+)
- Jones, Edward G (2+)
- Chae, Seungbyung (1+)
- Carmines , Edward G. (1+)
- Caird , Rod (1+)
Издатель
Год
Язык
한글
English
日本語
中文
Русский
עברית
ไทย
Française
Deutsch
Español