11
Evolution of Interface Voids under Current and Temperature Stress in Integrate Circuit Metallization
J.H. Choy, K.L. Kavanagh, Y.C. Kim,
| 대한금속.재료학회 |
2004
,
12
Seong Hwan Moon,Chul Yong Yun,
| 대한기계학회 |
2002
,
2
3
4
5
Сортировка
Очистить
Формат
Автор
- Joong-Keun Lee, Joshua Yoo, Myung Jae Yoo, Woo-Wu (1+)
- J.H. Choy, K.L. Kavanagh, Y.C. Kim (1+)
- J.H. Choy (1+)
- Chang-Hee Shin. (1+)
Издатель
Год
Язык
한글
English
日本語
中文
Русский
עברית
ไทย
Française
Deutsch
Español